2017年國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)光電技術(shù)考研大綱

• 2025考研復(fù)試標(biāo)準(zhǔn)班
• 26考研全科上岸規(guī)劃營(yíng)「擇校▪規(guī)劃▪備考」
• 國(guó)防科技大學(xué)2026考研專業(yè)課復(fù)習(xí)資料「真題▪筆記▪講義▪題庫(kù)」

2017年碩士研究生入學(xué)考試自命題科目考試大綱

科目代碼：871科目名稱：光電技術(shù)

一.考試要求

主要考查學(xué)生對(duì)光電技術(shù)的理論基礎(chǔ)、常用光電器件的原理與應(yīng)用技術(shù)以及光電信號(hào)的變換與處理技術(shù)等基礎(chǔ)知識(shí)的理解與掌握，考查學(xué)生對(duì)典型光電系統(tǒng)的分析能力和對(duì)簡(jiǎn)單光電系統(tǒng)的設(shè)計(jì)能力。

二、考試內(nèi)容

1．光輻射源
光輻射源工作的理論基礎(chǔ)，包括輻射度學(xué)與光度學(xué)基礎(chǔ)、半導(dǎo)體基礎(chǔ)、黑體輻射等知識(shí)，熱輻射源、黑體輻射器、激光二極管和發(fā)光二極管等典型光源結(jié)構(gòu)、特性及應(yīng)用。其中，輻射度學(xué)和半導(dǎo)體等內(nèi)容側(cè)重考查基本概念，黑體輻射知識(shí)側(cè)重考查基本概念及在光電工程的應(yīng)用。
2．光電探測(cè)器
光電探測(cè)器的分類、工作原理，光電導(dǎo)探測(cè)器、光伏探測(cè)器、光電倍增管、熱電偶、測(cè)輻射熱計(jì)、熱釋電探測(cè)器等常見(jiàn)探測(cè)器的結(jié)構(gòu)、原理、特性及應(yīng)用。光電成像器件的工作原理，MCP像增強(qiáng)器、CCD/CMOS攝像器件和紅外焦平面陣列器件的結(jié)構(gòu)、原理、特性及應(yīng)用。
3．光電信號(hào)的變換與處理
光電信號(hào)的變換的概念、分類、意義和作用，光學(xué)信號(hào)調(diào)制的概念和方法，直接探測(cè)和相干探測(cè)原理及應(yīng)用，檢測(cè)電路帶寬與低噪聲設(shè)計(jì)、相關(guān)檢測(cè)等電學(xué)信號(hào)處理方法。
4．典型光電系統(tǒng)的分析與設(shè)計(jì)
光電系統(tǒng)概念，測(cè)量檢查、控制跟蹤、圖像測(cè)量等功能的典型光電系統(tǒng)的分析方法，簡(jiǎn)單光電測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)的基本方法。其中，光電系統(tǒng)限制在參考書目（或相近光電類書目）中的應(yīng)用實(shí)例。

三、考試形式

考試形式為閉卷、筆試，考試時(shí)間為3小時(shí)，滿分150分。

題型包括：選擇題、簡(jiǎn)答題、分析計(jì)算題和系統(tǒng)設(shè)計(jì)題等。

四、參考書目

1．《光電技術(shù)》．江文杰，施建華等編著．科學(xué)出版社，2014.1,第二版