《半導體物理》考試大綱
考試科目名稱:半導體物理Ⅱ 考試科目代碼:[829]
一、考試要求:
要求考生系統地掌握半導體物理的基本概念和基本原理,并能利用基本原理分析半導體的物理性能。要求考生對半導體的晶體結構和能帶論、載流子統計分布、載流子輸運過程、p-n結理論、金屬-半導體接觸理論、半導體光電效應等基本原理有很好的掌握,并能熟練運用分析半導體的光電特性。
二、考試內容:
1)半導體晶體結構和能帶論 a:半導體晶格結構及電子狀態和能帶 b:半導體中電子的運動 c:本征半導體的導電機構 d:硅和鍺及常用化合物半導體的能帶結構 2)雜質半導體理論 a:硅和鍺晶體中的雜質能級 b:常用化合物半導體中的雜質能級 c:缺陷、位錯能級 3)載流子的統計分布 a:狀態密度與載流子的統計分布 b:本征與雜質半導體的載流子濃度 c:一般情況下載流子統計分布 d:簡并半導體 4)半導體的導電性 a:載流子的漂移運動與散射機構 b:遷移率、電阻率與雜質濃度和溫度的關系 c:多能谷散射、耿氏效應 5)非平衡載流子 a:非平衡載流子的注入、復合與壽命 b:準費米能級 c:復合理論、陷阱效應 d:載流子的擴散、電流密度方程 e:連續性方程 6)p-n結理論 a:p-n結及其能帶圖 b:p-n結電流電壓特性 c:p-n結電容、p-n結隧道效應 7)金屬-半導體接觸理論 a:金-半接觸、能帶及整流理論 b:歐姆接觸 8)半導體光電效應 a:半導體的光學性質(光吸收和光發射) b:半導體的光電導效應 c:半導體的光生伏特效應 d:半導體發光二極管、光電二極管
三、試卷結構:
a)考試時間:180分鐘,滿分:150分 b)題型結構 a:概念及簡答題(60分) b:論述題(90分) c)內容結構 a:半導體晶體結構和能帶論及雜質半導體理論(30分) b:載流子的統計分布(20分) c:半導體的導電性(20分) d:非平衡載流子(20分) e:p-n結理論和金屬-半導體接觸理論(30分) f:半導體光電效應(30分)
四、參考書目
1.劉恩科,朱秉升,羅晉升編著.半導體物理學.電子工業出版社,2011.03. 2.[美]施敏(S.M.Sze),半導體器件物理,電子工業出版社,1987.12.
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