2022年國(guó)防科技大學(xué)F0106核輻射探測(cè)考研大綱及參考書目

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2022年碩士研究生入學(xué)考試自命題科目考試大綱

科目代碼：F0106 科目名稱：核輻射探測(cè)

一、考試要求

主要考查學(xué)生對(duì)輻射與物質(zhì)相互作用基本規(guī)律的掌握;對(duì)放射性統(tǒng)計(jì)規(guī)律的掌握;對(duì)核物理實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行誤差分析基本方法的掌握;對(duì)常見三種類型探測(cè)器工作原理、輸出信號(hào)特征、主要性能及應(yīng)用范圍的掌握;對(duì)核物理實(shí)驗(yàn)中常用測(cè)量方法的掌握;對(duì)中子基本性質(zhì)及探測(cè)方法的掌握等。

二、考試內(nèi)容

1.輻射與物質(zhì)的相互作用

α、β、γ三種衰變的基本特點(diǎn);放射性衰變的基本規(guī)律;重帶電粒子能量損失bethe公式;射程的概念;快電子與物質(zhì)的相互作用規(guī)律;軔致輻射;光電效應(yīng);康普頓散射;電子對(duì)效應(yīng);α、β、γ射線的衰減規(guī)律等。

2.輻射探測(cè)中的統(tǒng)計(jì)學(xué)

二項(xiàng)式分布、泊松分布、高斯分布及三者之間的相互關(guān)系;期望、方差、相對(duì)方差等統(tǒng)計(jì)學(xué)中的數(shù)字表征;串級(jí)隨機(jī)變量;串級(jí)隨機(jī)變量期望及其平均值、相對(duì)方差的計(jì)算;誤差傳遞公式;法諾分布;帶電粒子電離過程的統(tǒng)計(jì)漲落等。

3.氣體探測(cè)器

平均電離能的概念;氣體中電子和離子的運(yùn)動(dòng)規(guī)律;氣體探測(cè)器工作模式與工作電壓的關(guān)系;電離室的基本結(jié)構(gòu)、信號(hào)形成過程及其漲落;電離室輸出回路的等效電路;平板型電離室;圓柱型電離室;屏柵電離室;電子脈沖電離室;離子脈沖電離室;電流電離室;正比計(jì)數(shù)器工作原理;光子反饋的概念;離子反饋的概念;死時(shí)間的概念;死時(shí)間的修正;G-M計(jì)數(shù)管工作原理;常見氣體探測(cè)器的主要性能指標(biāo)等。

4.閃爍探測(cè)器

閃爍探測(cè)器工作的物理過程;閃爍體分類;閃爍體的性能指標(biāo);光導(dǎo)的概念及應(yīng)用;光電倍增管的結(jié)構(gòu)及工作原理;光電倍增管的性能指標(biāo);光電倍增管的供電方式;閃爍探測(cè)器的電壓工作狀態(tài);閃爍探測(cè)器的電流工作狀態(tài);輸出信號(hào)的統(tǒng)計(jì)漲落;γ射線的能譜分析等。

5.半導(dǎo)體探測(cè)器

半導(dǎo)體的基本性質(zhì);PN結(jié)的形成及其特征;PN結(jié)型半導(dǎo)體探測(cè)器;高純鍺探測(cè)器;PIN型探測(cè)器;半導(dǎo)體探測(cè)器的主要性能及其應(yīng)用等。

6.核輻射測(cè)量方法

放射性活度測(cè)量方法及其影響因素;相對(duì)測(cè)量方法;符合的概念;符合時(shí)間的概念;符合曲線的概念;符合測(cè)量系統(tǒng);輻射成像測(cè)量原理等;

7. 中子及中子探測(cè)

中子的基本性質(zhì);中子的分類;裂變中子源;加速器中子源;反應(yīng)堆中子源;散裂中子源;反應(yīng)截面的概念;中子的吸收與散射;中子的慢化;中子的探測(cè)方法及其應(yīng)用范圍;常見中子探測(cè)器及其特點(diǎn);中子的屏蔽與防護(hù)等。

三、考試形式

考試形式為閉卷、筆試，考試時(shí)間為2小時(shí)，滿分100分。

題型包括：填空題(約30分)、選擇題(約20分)，簡(jiǎn)答題(約20分)，計(jì)算題(約30分)等。

四、參考書目

《核輻射物理及探測(cè)學(xué)》，陳伯顯編，哈爾濱工程大學(xué)出版社，2011年，第一版。